000 01206nab a2200361 a 4500
001 ELB5429
003 FlNmELB
006 m o d |
007 cr cn|||||||||
008 201105r2006 ck |||||s|||||||||||spa d
022 _a0120-4211
035 _a(OCoLC)955397393
040 _aFlNmELB
_bspa
_cFlNmELB
050 4 _aQC173.6
_bR918 2006
080 _a535
082 0 4 _a535.2
_222
100 1 _aRueda P., J. E.
222 0 _aBistua
245 1 0 _aInterferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
_h[recurso electronico].
260 _aPamplona, Colombia :
_bUniversidad de Pamplona,
_c2006.
300 _a10-16 p.
310 _aSemestral
362 0 _aVol. 4, No. 1(2006)-
533 _aRecurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.
650 4 _aScience.
_xPhysics.
650 4 _aCiencias.
_xFísica.
650 4 _aScience.
_xoptics.
650 4 _aCiencias.
_xóptica.
655 4 _aArtículos electrónicos.
700 1 _aLasprilla, M. C.
710 2 _ae-libro, Corp.
856 4 0 _uhttps://elibro.net/ereader/pedagogica/5429
999 _c172334
_d172334